產(chǎn)品中心
PRODUCTS CENTER
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心少子壽命測試儀（MDP）臺式PID（Potential Induced Degradation）
產(chǎn)品簡介
臺式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
標準：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
易ID和抗PID的太陽能電池 重現(xiàn)性
臺式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
標準：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
臺式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
標準：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
臺式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
標準：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
臺式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
標準：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
臺式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
標準：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
臺式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
標準：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
臺式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
標準：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
掃一掃，關(guān)注公眾號
服務電話：
021-34685181
上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號樓602室
wei.zhu@shuyunsh.com
服務熱線：
021-34685181
17621138977
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
上一個：
返回列表