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更新時(shí)間:2026-07-08
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布魯克X射線部門 王金波
時(shí)光倏忽,2026上半年已結(jié)束,2026年下半年曙光將至?;赝麃砺?,每一次突破皆如竹拔節(jié);展望新程,更需 “百尺竿頭,更進(jìn)一步"般的深耕探索。而三維 X 射線顯微鏡(XRM),正是助力科研人穿透表象、直抵重心,在微觀世界再攀新高的硬核 “攀登杖"。
一、如竹之“透":無損穿透,直抵重心
竹質(zhì)堅(jiān)韌卻透光見中空, XRM同樣具備這般穿透之力。依托先進(jìn)X射線成像技術(shù),無需破壞即可穿透樣品,直達(dá)微觀中心,完整保留樣品狀態(tài),精確支撐工業(yè)缺陷排查與科研精細(xì)觀察。
▲布魯克XRM獲取的竹子高分辨率切片圖,分辨率2um
以布魯克X4 POSEIDON™ XRM系統(tǒng)為例,可清晰呈現(xiàn)碳纖維取向、密度分布及內(nèi)部缺陷,為材料強(qiáng)度評(píng)估提供可靠依據(jù)。無論是動(dòng)態(tài)變化、微小裂紋,還是結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié),均能在不干擾樣品的前提下完整捕捉,保障微觀探索的真實(shí)性與完整性。
二、如竹之“精": 亞微分辨,細(xì)察毫厘
竹子生長精確有序,布魯克XRM成像精度亦如此。憑借GEM Plus幾何放大技術(shù),分辨率較傳統(tǒng)提升1.5倍,實(shí)現(xiàn)亞微米級(jí)乃至納米級(jí)空間分辨率。如布魯克X4 POSEIDON™搭載高分辨sCMOS探測(cè)器,可精確捕捉亞微米細(xì)節(jié),讓微觀特征無所遁形。
高精度加持下,材料孔隙分布、微小缺陷等細(xì)微特征清晰可見。在地質(zhì)樣品分析中,頁巖孔隙結(jié)構(gòu)成像遠(yuǎn)超傳統(tǒng)設(shè)備;半導(dǎo)體失效分析中,可精確識(shí)別引線鍵合問題;碳纖維復(fù)合材料研究中,能定量獲取纖維間距分布。這份“目盡毫厘"的精確,正是科研突破的重心底氣。
三、如竹之“韌":靈活適配,多維賦能
竹子適應(yīng)性強(qiáng),可在多種環(huán)境生長,布魯克XRM亦具備這般靈活適配能力。以模塊化設(shè)計(jì)為重心,可按需定制光源、雙探測(cè)器組合,一鍵切換性能模式,靈活應(yīng)對(duì)不同領(lǐng)域、樣品的成像需求。硬件上,支持15位自動(dòng)進(jìn)樣器、原位實(shí)驗(yàn)臺(tái)即插即用,新增探測(cè)器無需返廠;軟件上,3DxSUITE界面可DIY,集成數(shù)據(jù)庫管理功能,多語言適配全球用戶。從基礎(chǔ)科研到工業(yè)質(zhì)檢,布魯克XRM均能精確適配,多維賦能。
▲布魯克X4 POSEIDON 三維X射線顯微鏡
2026上半年,布魯克XRM以無損、精確、高效、靈活的優(yōu)勢(shì),助力科研人實(shí)現(xiàn)“百尺竿頭"的突破;下半年,將以更優(yōu)性能與便捷操作,陪伴科研人“更進(jìn)一步",解鎖更多微觀奧秘。
愿新歲科研人如竹堅(jiān)韌生長、節(jié)節(jié)攀升。布魯克XRM將始終作為可靠伙伴,以硬核技術(shù)助力斬獲更多科研碩果!
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